因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

磁化曲線檢測(cè)包含以下核心項(xiàng)目：

初始磁導(dǎo)率測(cè)定：量化材料在弱磁場(chǎng)下的導(dǎo)磁能力

飽和磁感應(yīng)強(qiáng)度(Bs)測(cè)量：確定材料最大磁化能力

矯頑力(Hc)分析：表征材料退磁難易程度

剩磁(Br)測(cè)試：評(píng)估磁場(chǎng)移除后的殘余磁性

最大磁能積(BH)max計(jì)算：綜合反映永磁材料性能

磁滯回線測(cè)繪：完整記錄材料磁化-退磁循環(huán)特性

各項(xiàng)目需依據(jù)IEC 60404-4、ASTM A341等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行測(cè)試程序，其中直流測(cè)試適用于靜態(tài)特性分析，交流測(cè)試側(cè)重動(dòng)態(tài)損耗評(píng)估。

檢測(cè)范圍

本檢測(cè)技術(shù)適用于以下領(lǐng)域：

軟磁材料：硅鋼片、鐵氧體、非晶合金等電力電子材料

永磁材料：釹鐵硼、鋁鎳鈷、鐵鉻鈷等永磁合金

電磁器件：變壓器鐵芯、電感線圈、電機(jī)定轉(zhuǎn)子組件

納米磁性材料：磁性薄膜、復(fù)合磁性材料等新型功能材料

高溫超導(dǎo)材料：低溫強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下的超導(dǎo)特性研究

針對(duì)不同應(yīng)用場(chǎng)景需調(diào)整測(cè)試條件：電力設(shè)備用硅鋼片需測(cè)量50/60Hz工頻特性；高頻開關(guān)電源用鐵氧體需測(cè)試1MHz以上高頻參數(shù)；航空航天用磁性材料需進(jìn)行-196℃至300℃溫變測(cè)試。

檢測(cè)方法

主流測(cè)試方法包括：

靜態(tài)法（DC法）：

采用沖擊檢流計(jì)法測(cè)量準(zhǔn)靜態(tài)磁場(chǎng)下的B-H曲線

使用環(huán)形試樣配合標(biāo)準(zhǔn)互感器進(jìn)行絕對(duì)測(cè)量

符合GB/T 3657-2017環(huán)形試樣直流磁性測(cè)量規(guī)范

動(dòng)態(tài)法（AC法）：

基于愛潑斯坦方圈法的交流磁性測(cè)量系統(tǒng)

采用數(shù)字積分器實(shí)現(xiàn)1kHz-100kHz寬頻帶測(cè)試

符合IEC 60404-2單片電工鋼片交流磁性測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

脈沖磁場(chǎng)法：

利用電容器放電產(chǎn)生瞬態(tài)強(qiáng)磁場(chǎng)（可達(dá)10T）

配合Rogowski線圈測(cè)量快速變化的B值

適用于永磁材料的退磁曲線測(cè)定

超導(dǎo)量子干涉法（SQUID）：

分辨率達(dá)10^-8 emu的極弱磁性測(cè)量

可進(jìn)行2K-400K寬溫區(qū)測(cè)試

主要用于納米材料和薄膜的精細(xì)分析

檢測(cè)儀器

典型測(cè)試系統(tǒng)配置如下：

現(xiàn)代儀器普遍集成數(shù)字信號(hào)處理模塊，采用LabVIEW或?qū)Ｓ密浖?shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集與處理自動(dòng)化。高精度系統(tǒng)需配備μΩ級(jí)電阻標(biāo)準(zhǔn)器、零磁通電流互感器等校準(zhǔn)裝置，定期通過NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行量值傳遞。

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件