中析研究所檢測中心
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中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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檢測領(lǐng)域：
成分分析,配方還原,食品檢測,藥品檢測,化妝品檢測,環(huán)境檢測,性能檢測,耐熱性檢測,安全性能檢測,水質(zhì)檢測,氣體檢測,工業(yè)問題診斷,未知成分分析,塑料檢測,橡膠檢測,金屬元素檢測,礦石檢測,有毒有害檢測,土壤檢測,msds報告編寫等。
發(fā)布時間：2025-04-18
關(guān)鍵詞：銳鈦礦金紅石比例X射線項檢測報價,銳鈦礦金紅石比例X射線檢測方法,銳鈦礦金紅石比例X射線檢測機構(gòu)
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來源：北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。
本檢測主要針對二氧化鈦基材料中銳鈦礦與金紅石晶相的定量分析：
物相組成鑒定：確認樣品中是否存在銳鈦礦（ICDD 21-1272）、金紅石（ICDD 21-1276）及其他伴生礦物
晶相比例計算：通過衍射峰強度比或全譜擬合確定兩相質(zhì)量百分比
晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)測定：包括晶胞參數(shù)（a, c軸長度）、微應(yīng)變及晶粒尺寸計算
擇優(yōu)取向評估：分析(101)與(110)等特征峰強度異?，F(xiàn)象
本方法適用于以下領(lǐng)域樣品分析：
地質(zhì)礦物學(xué)：天然鈦礦石的礦物組成研究
工業(yè)催化劑：光催化材料晶型調(diào)控工藝驗證
涂料行業(yè)：二氧化鈦顏料晶型穩(wěn)定性監(jiān)測
新能源材料：鋰離子電池電極材料表征
環(huán)境工程：光降解材料性能評估
依據(jù)ISO 14703:2020與JCPDS標準實施三階段分析流程：
粒度控制：瑪瑙研缽研磨至D50≤5μm
擇優(yōu)取向消除：采用側(cè)裝填法裝樣并旋轉(zhuǎn)樣品臺（30rpm）
內(nèi)標添加：當含量＜5%時摻入20wt%剛玉標準物質(zhì)（α-Al2O3）
掃描范圍：2θ=20°-80°（Cu Kα輻射）
步進角度：0.02°/step
駐留時間：1s/step（高精度模式采用3s/step）
管電壓/電流：40kV/40mA
背景扣除：采用7次多項式擬合消除空氣散射影響
峰位校正：以NIST SRM640c硅標樣校準儀器零點誤差
重疊峰解卷積：使用偽Voigt函數(shù)進行峰形擬合（FWHM≤0.1°）
定量計算：
參考強度比法（RIR）：采用(101)A/（110）R峰強比計算質(zhì)量分數(shù)
Rietveld全譜擬合：通過TOPAS軟件進行結(jié)構(gòu)精修（Rwp<10%）
實驗需配置以下設(shè)備系統(tǒng)：
| 設(shè)備類型 | 技術(shù)規(guī)格 |
|---|---|
| X射線衍射儀 | 測角儀精度±0.0001°，配備石墨單色器與固態(tài)陣列探測器（如Bruker D8 ADVANCE或Rigaku SmartLab） |
| 樣品制備系統(tǒng) | 零背景硅片載樣臺，自動旋轉(zhuǎn)裝置（轉(zhuǎn)速誤差≤±1%） |
| 數(shù)據(jù)處理軟件 | Jade MDI（含ICDD PDF-4+數(shù)據(jù)庫）、TOPAS V6.0或HighScore Plus套件 |
| 輔助設(shè)備 | 真空鍍膜儀（碳涂層厚度≤10nm）、激光粒度分析儀（測量范圍0.01-1000μm） |
注：實驗環(huán)境需維持溫度23±1℃、濕度≤40%RH以保障儀器穩(wěn)定性。
參考文獻： ISO 14703:2020 Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Sample preparation for the determination of particle size distribution of ceramic powders ICDD PDF-4+ 2023 Database Release Rietveld H.M. (1969) J Appl Crystallogr, 2:65-71
1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)
2、確認檢測用途及項目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測
6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認信息是否無誤
7、確認完畢后出具報告正式件
8、寄送報告原件
