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掃描探針顯微鏡(SPM)/原子力顯微鏡(AFM)

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型號: Ntegra Spectra
單價: 面議
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所在地: 上海
有效期至: 長期有效
最后更新: 2011-07-12 16:13
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公司基本資料信息
詳細(xì)說明
 NTEGRA Spectra系統(tǒng)簡介: 

NTEGRA Spectra - AFM / CONFOCAL RAMAN & FLUORESCENCE / SNOM / TERS 
它將原子力顯微鏡、掃描近場光學(xué)顯微鏡,激光共聚焦顯微鏡、熒光光譜和拉曼光譜等各種分析手段完美地結(jié)合到一起。借助于針尖增強拉曼散射效應(yīng)(TERS),其拉曼散射光譜和圖像測量的分辨率達到了50nm! 

Confocal optical microscopy/spectroscopy system 
NTEGRA Spectra系統(tǒng)將激光共聚焦顯微鏡、拉曼光譜、光學(xué)顯微鏡和掃描探針顯微鏡完美結(jié)合,提供了熒光光譜與Raman散射的空間3D分布測量,而掃描探針顯微鏡也兼?zhèn)淞思{米壓痕、納米操縱和納米刻蝕加工等功能! 

Scanning probe microscopy system 
NTEGRA Spectra在進行光學(xué)觀測的同時,NTEGRA Spectra系統(tǒng)也可以通過多種模式對樣品進行SPM表征,包括:原子力顯微鏡、磁力顯微鏡、靜電力顯微鏡、掃描隧道顯微鏡、掃描近場光學(xué)顯微鏡、力曲線等等多大40種功能。這種獨有的設(shè)計將光學(xué)與探針方法聯(lián)合的設(shè)備,賦予了用戶對樣品同時進行多種性能表征的能力,使得用戶可以觀測樣品的光學(xué)性質(zhì)、化學(xué)性能、電學(xué)性質(zhì)、力學(xué)性質(zhì)和磁學(xué)性質(zhì)等等! 

System for the investigation of optical properties beyond the diffraction limit 
NTEGRA Spectra系統(tǒng)區(qū)別于其他光學(xué)設(shè)備的性能在于它能在超過衍射極限的分辨率下,對樣品光學(xué)性質(zhì)進行研究。掃描近場光學(xué)顯微鏡與局域的針尖增強拉曼散射效應(yīng)使得用戶可以對光轉(zhuǎn)移、光散射和光極化進行成像,其Raman散射的空間分辨率達到了50nm! 

NTEGRA Spectra系統(tǒng)的工作模式 
原子力顯微鏡(力學(xué)、電學(xué)、磁性質(zhì)等,納米操作等多大40種功能) 
掃描近場光學(xué)顯微鏡(透射、反射、收集、熒光) 
激光共聚焦顯微鏡、共聚焦拉曼成像、熒光成像、光學(xué)成像 
針尖增強拉曼散射-TERS(正置+倒置)掃描近場光學(xué)顯微鏡 ( SNOM / NSOM ) 
環(huán)境控制:溫度、氣氛控制、液相操作、電化學(xué)環(huán)境、外加磁場

不僅能將原子力顯微鏡-近場光學(xué)顯微鏡-光學(xué)顯微鏡-共聚焦顯微-拉曼光譜完美的聯(lián)用。此外每個功能還能單獨使用即提供了:獨立的AFM/獨立的SNOM/獨立的光學(xué)顯微鏡/獨立的共聚焦顯微鏡/獨立的拉曼光譜,所有功能都能在同一個軟件下實現(xiàn)聯(lián)用,并且能夠同時得到測量結(jié)果。為了更好的體現(xiàn)Ntegra 的擴展性,該系統(tǒng)不但能和NT-MDT 的拉曼系統(tǒng)聯(lián)用, 
也同和市場上主流的拉曼進行聯(lián)用,例如Renishaw,JY 等拉曼系統(tǒng)聯(lián)用。
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