因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

AOI系統(tǒng)執(zhí)行的基礎(chǔ)檢測(cè)項(xiàng)目包含五大類：焊點(diǎn)形態(tài)完整性檢測(cè)（錫橋/虛焊/少錫）、元件貼裝位置偏差（X/Y/θ軸偏移）、極性元件方向驗(yàn)證（二極管/電解電容）、基板表面異物殘留（錫珠/助焊劑結(jié)晶）以及絲印標(biāo)識(shí)完整性（字符缺失/模糊）。其中焊點(diǎn)三維形態(tài)分析需滿足IPC-A-610H標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的可接受條件閾值，位置偏差容差控制在±0.05mm以內(nèi)。

檢測(cè)范圍

AOI的工業(yè)應(yīng)用覆蓋SMT產(chǎn)線全制程：在貼片工序后執(zhí)行元件缺件/錯(cuò)件初檢；回流焊前進(jìn)行錫膏印刷質(zhì)量預(yù)判；焊接后實(shí)施BGA/CSP隱藏焊點(diǎn)間接判定。具體涵蓋0402至LGA152封裝元件檢測(cè)，最大支持610×460mm基板尺寸。在汽車電子領(lǐng)域需滿足AEC-Q100溫度循環(huán)測(cè)試后的二次復(fù)檢要求，軍工產(chǎn)品則須通過MIL-STD-883G標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的微裂紋識(shí)別測(cè)試。

檢測(cè)方法

采用多光譜成像技術(shù)組合：白光LED環(huán)形光源用于表面形貌重建，同軸光模塊解析金屬表面特性，UV熒光光源識(shí)別有機(jī)污染物。圖像處理采用特征向量匹配算法（FVMA）比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板庫(kù)，深度學(xué)習(xí)模型（CNN架構(gòu)）實(shí)現(xiàn)異常特征分類。針對(duì)BGA焊點(diǎn)實(shí)施分層掃描技術(shù)（LST），通過Z軸步進(jìn)電機(jī)實(shí)現(xiàn)0.01mm級(jí)分層成像。

檢測(cè)儀器

主流設(shè)備配置包含：①12MP全局快門CMOS傳感器（像素尺寸3.45μm）②10倍電動(dòng)變焦鏡頭（工作距離150-300mm可調(diào)）③六軸運(yùn)動(dòng)平臺(tái)（重復(fù)定位精度±2μm）④熱像儀模塊（測(cè)溫范圍-20℃~300℃）。高端機(jī)型集成X射線模塊實(shí)現(xiàn)三維斷層掃描（CT-AOI），典型設(shè)備如Nordson YESTECH FX-940ULT搭載32通道TDI線陣相機(jī)，可實(shí)現(xiàn)0.3秒/幀的高速檢測(cè)。

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件