因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

礦石成分檢測(cè)體系包含基礎(chǔ)組分測(cè)定與深度特性解析兩大層級(jí)。主量元素分析涵蓋鐵、銅、鋁等金屬元素及硅、鈣等非金屬元素的含量測(cè)定，精度需達(dá)到0.01%級(jí)別；微量元素檢測(cè)聚焦砷、汞、鎘等有害物質(zhì)及稀土元素的ppm級(jí)定量；礦物相分析通過物相鑒定明確黃鐵礦、赤鐵礦等具體礦物形態(tài)占比；物理特性測(cè)試包含硬度、密度及解離度等參數(shù)測(cè)定。

檢測(cè)范圍

本檢測(cè)體系適用于金屬礦（含黑色金屬/有色金屬/貴金屬）、非金屬礦（含磷礦/石墨/螢石）及復(fù)合型礦產(chǎn)的工業(yè)品位評(píng)價(jià)。具體涵蓋原礦樣品、選礦中間產(chǎn)物及尾礦殘留物的全流程監(jiān)測(cè)，滿足地質(zhì)勘探階段的資源評(píng)估、選冶工藝優(yōu)化及環(huán)境合規(guī)審查等多場(chǎng)景需求。特殊礦種如稀土礦需增加放射性元素篩查模塊，硫化礦則需強(qiáng)化硫化物形態(tài)鑒別。

檢測(cè)方法

X射線熒光光譜法（XRF）作為主量元素快速篩查首選方案，配備FP法無標(biāo)樣分析功能；電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）實(shí)現(xiàn)ppb級(jí)微量元素精準(zhǔn)定量；X射線衍射（XRD）完成礦物晶體結(jié)構(gòu)解析與半定量相分析；掃描電鏡-能譜聯(lián)用（SEM-EDS）用于微區(qū)成分與形貌關(guān)聯(lián)研究；化學(xué)濕法分析作為仲裁方法驗(yàn)證關(guān)鍵元素含量。

檢測(cè)儀器

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀（WDXRF）配置4kW銠靶管與8晶體分光系統(tǒng)；高分辨ICP-MS配備碰撞反應(yīng)池技術(shù)消除質(zhì)譜干擾；多晶X射線衍射儀采用Cu靶輻射源與高速陣列探測(cè)器；場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡搭配牛津能譜儀實(shí)現(xiàn)1nm分辨率觀測(cè)；全自動(dòng)電位滴定儀集成動(dòng)態(tài)pH監(jiān)測(cè)模塊保障化學(xué)法精度；激光粒度分析儀完成礦物顆粒度分布測(cè)定。

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件