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發(fā)布時間:2025-04-28
關(guān)鍵詞:螺旋測微器項檢測報價,螺旋測微器檢測范圍,螺旋測微器檢測周期
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來源:北京中科光析科學技術(shù)研究所
因業(yè)務調(diào)整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
螺旋測微器檢測體系包含六類核心指標:測量系統(tǒng)精度驗證涵蓋示值誤差(±2μm)、回程誤差(≤1μm)及重復性誤差(≤0.5μm);機械性能測試包含測桿軸向竄動(≤3μm)、測砧平面度(0.6μm/m)與工作面平行度(1.2μm/m);功能完整性檢驗涉及微分筒旋轉(zhuǎn)靈活性(扭矩0.05-0.15N·m)、鎖緊裝置可靠性(位移量≤0.5μm)及隔熱裝置有效性(溫度漂移≤0.8μm/℃)。環(huán)境適應性測試需驗證儀器在(20±5)℃溫度范圍內(nèi)的示值穩(wěn)定性。
本規(guī)程適用于分辨力0.001mm的機械式外徑千分尺、數(shù)顯千分尺及特殊用途測微器(螺紋中徑千分尺、板厚千分尺)。測量上限覆蓋0-25mm至500-600mm共12個規(guī)格段。重點應用于機械制造領(lǐng)域軸類零件直徑測量、精密加工中的薄壁件厚度檢測以及科研實驗室材料膨脹系數(shù)測定場景。針對校準周期超12個月或經(jīng)歷沖擊載荷的儀器實施強制檢測。
示值誤差檢測采用三等標準量塊組進行全量程五點校準:將25mm量塊置于兩測量面間,旋轉(zhuǎn)微分筒至棘輪發(fā)出3次響聲后讀取示值偏差;平面度測試使用光學平晶干涉法:將平晶貼合測砧工作面觀察干涉條紋彎曲量(每條紋對應0.29μm偏差);平行度驗證需在四等量塊不同方位進行五次重復測量取極差;測力穩(wěn)定性通過數(shù)字式測力計記錄三次測量過程中的峰值波動值。
校準系統(tǒng)由激光干涉儀(分辨率0.01μm)、零級花崗巖平臺(平面度0.3μm/m)、恒溫恒濕箱(控制精度±0.5℃)構(gòu)成基礎(chǔ)環(huán)境;專用檢具包含平行平晶組(直徑60mm/厚度20mm)、杠桿千分表(量程±0.2mm)及標準溫度計(精度±0.1℃)。輔助設備配置影像測量儀(CCD像素500萬)用于微分筒刻線清晰度評估;數(shù)采系統(tǒng)實時記錄測力曲線并自動生成F-T特性圖。
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