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普通會(huì)員

深圳市禾苗分析儀器有限公司

RoHS檢測(cè)儀器、X射線熒光光譜儀、XRF、元素分析儀、重金屬檢測(cè)儀

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供應(yīng)rohs檢測(cè)儀器,rohs檢測(cè)儀器生產(chǎn)廠家
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產(chǎn)品: 瀏覽次數(shù):632供應(yīng)rohs檢測(cè)儀器,rohs檢測(cè)儀器生產(chǎn)廠家 
品牌: 禾苗
型號(hào): heleexE8
單價(jià): 面議
最小起訂量:
供貨總量:
發(fā)貨期限: 自買(mǎi)家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
有效期至: 長(zhǎng)期有效
最后更新: 2014-04-25 09:25
  詢(xún)價(jià)
詳細(xì)信息

一、簡(jiǎn)述:
HeLeeX E8是一款通用型rohs檢測(cè)儀器;其核心光路系統(tǒng)集合國(guó)內(nèi)外幾十年EDXRF尖端技術(shù),核心部件采用美國(guó)進(jìn)口,軟件算法采用美國(guó)rohs檢測(cè)儀器前沿技術(shù),儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有權(quán)威第三方檢查機(jī)構(gòu)報(bào)告; HeLeeX E8精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超越國(guó)內(nèi)外同類(lèi)rohs檢測(cè)儀器。目前HeLeeX E8系列產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于RoHS、無(wú)鹵、鍍層測(cè)厚、合金分析、貴金屬分析、玩具、皮革等領(lǐng)域。

二、產(chǎn)品規(guī)格及技術(shù)特點(diǎn)

2.1、儀器規(guī)格:
?????外形尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (長(zhǎng)x寬x高)
?????樣品倉(cāng)尺寸:360mm×330 mm ×50 mm (長(zhǎng)x寬x高)
?????儀器重量 :33.5kg
?????供電電源 :AC220V/ 50Hz
?????最大功率 :330W
?????工作溫度 :15-30℃
?????相對(duì)濕度 :≤85%,不結(jié)露
2.2、儀器特點(diǎn):
?????外形特點(diǎn):
??儀器結(jié)構(gòu)采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì),儀器兩側(cè)按成人手臂長(zhǎng)度設(shè)計(jì),方便移動(dòng)、搬運(yùn)。
??上蓋傾斜6度角,寓意對(duì)客戶(hù)的尊重。
??表面采用高檔汽車(chē)噴漆工藝,采用寶藍(lán)、雅致白搭配,藍(lán)色代表科技,白色代表圣潔,寓意對(duì)科學(xué)的敬仰。
?????輻射防護(hù):
??樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線。
??輻射標(biāo)志警示。
??迷宮式結(jié)構(gòu),防止射線泄漏。
??安全連鎖設(shè)計(jì);測(cè)試過(guò)程中誤打開(kāi)樣品蓋時(shí),電路0.1μS快速切斷X射線。
??儀器經(jīng)權(quán)威第三方檢測(cè),X射線劑量率完全符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》。
?????硬件技術(shù):
??超短光路設(shè)計(jì):提高無(wú)鹵檢測(cè)分辨率,提高樣品分析效率,降低光管功率,延長(zhǎng)儀器使用壽命。
??模塊化準(zhǔn)直器,根據(jù)分析元素,配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器,從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響,提高元素分辨率。
??空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì),加速光管冷卻,有效降低儀器內(nèi)部溫度;靜音設(shè)計(jì)。
??電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
??快拆卸樣品臺(tái),換薄膜更方便。
?????軟件技術(shù):
??分析元素:Na~U之間元素。
??分析時(shí)間:60~400秒。
??配置RoHS檢測(cè)分析模型,無(wú)鹵分析模型。
??軟件界面簡(jiǎn)潔,模塊化設(shè)計(jì),功能清晰,易操作。
??HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份,一鍵還原功能,保護(hù)用戶(hù)數(shù)據(jù)安全。
??HeLeeX ED Workstation V3.0根據(jù)不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測(cè)試精準(zhǔn)度。
??HeLeeX ED Workstation V3.0配備開(kāi)放式分析模型功能,客戶(hù)建立自己的工作模型。

三、儀器硬件配置

3.1、探測(cè)器
???類(lèi)型:Si-PIN探測(cè)器(采用原裝風(fēng)進(jìn)口高性能電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器)
???Be窗厚度:1mil
???晶體面積:25mm2
???最佳分辨率:149eV
???信號(hào)處理系統(tǒng)DP5

3.2、X射線管
???電 壓 :0~50kV
???最大電流 :2.0mA
???最大功率 :50W
???靶 材 :Mo
???Be窗厚度 :0.5mm
???使用壽命 :大于2萬(wàn)小時(shí)

3.3、高壓電源
???輸出電壓:0~50kV
???燈絲電流:0~2mA
???最大功率:50W
???紋波系數(shù):0.1%(p-p值)
???8小時(shí)穩(wěn)定性:0.05%
3.4、攝像頭
???微焦距
???免驅(qū)動(dòng)
???500萬(wàn)像素
3.5、準(zhǔn)直器、濾光片
???快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)
???多種材質(zhì)準(zhǔn)直器
???光斑大小Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3.0mm、Φ5.0mm
???多種濾光片、準(zhǔn)直器組合,軟件自動(dòng)切換
3.6、其他配件
進(jìn)口高性能開(kāi)關(guān)電源
進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇
四、軟件配置
???軟件名稱(chēng):HeLeeX ED Workstation V3.0。
???應(yīng)對(duì)指令:RoHS檢測(cè)(Pb、Cd、Hg、Cr、Br)、無(wú)鹵檢測(cè)(Br、Cl)。
???開(kāi)放式分析模型。
???多種數(shù)據(jù)算法,根據(jù)不同基體樣品,配備不同算法,提高儀器測(cè)試精準(zhǔn)度。
???數(shù)據(jù)一鍵備份、一鍵還原,增加數(shù)據(jù)安全性。
???操作界面簡(jiǎn)潔,使用方便。
???軟件幫助功能。
詢(xún)價(jià)單
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