微X-射線熒光光譜儀
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微X-射線熒光光譜儀
詳細(xì)信息 X-Pectra代表新一代的X射線微熒光光譜儀,它用來描述許多種材料的化學(xué)混合物的結(jié)構(gòu),包括固體,液體,薄膜和粉末 樣品。 應(yīng)用領(lǐng)域包括冶金和有色金屬,地質(zhì),礦業(yè),珠寶,法醫(yī)科學(xué),藝術(shù)品估,海關(guān)監(jiān)察,工業(yè)化學(xué)和醫(yī)藥研發(fā)等
X-Pectra桌面設(shè)計(jì)緊湊,是用專利的聚合毛細(xì)管透鏡技術(shù)的高強(qiáng)度錨準(zhǔn)器;無維修成本,體積小重量輕;友好的操作界面;不同材料物質(zhì)的微量分析,定性定量;LCD顯示,隔膜鍵盤操作模式
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